BeNano 180 納米粒度分析儀
產(chǎn)品介紹
BeNano 180 納米粒度分析儀是丹東百特儀器公司開發(fā)的采用背向散射技術(shù)用于檢測納米顆粒粒度及其分布的光學檢測系統(tǒng)。它基于動態(tài)光散射原理，樣品分散在樣品池中，通過激光照射到樣品上，光電檢測器在背向 173°角檢測樣品顆粒布朗運動造成的散射光強隨時間的波動，再通過相關器進行自相關運算得出樣品的自相曲線，結(jié)合數(shù)學方法就可以得到顆粒的擴散系數(shù)，進一步利用斯托克斯 - 愛因斯坦方程就得到樣品的粒度結(jié)果。
基本性能指標
粒徑檢測
| 原理 | 動態(tài)光散射技術(shù) |
粒徑范圍 | 0.3 nm – 10 μm |
樣品 | 40 μL – 1 mL |
檢測角度 | 173 |
分析算法 | Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS |
分子量測試
分子量范圍 | 342 Da – 2 x 107 Da |
微流變測試
測試能力 | 均方位移、復數(shù)模量、彈性模量、粘性模量、蠕變?nèi)崃?/span> |
粘度和折光率測試
| 粘度范圍 | 0.01 cp – 100 cp |
折光率范圍 | 1.3-1.6 |
趨勢測試
| 時間和溫度 |
|
系統(tǒng)參數(shù)
| 溫控范圍 | -15°C - 110°C，精度±0.1°C |
冷凝控制 | 干燥空氣或者氮氣 |
標準激光光源 | 50 mW 高性能固體激光器， 671 nm |
相關器 | 最快25 ns采樣，最多 4000通道，1011動態(tài)線性范圍 |
檢測器 | APD （高性能雪崩光電二極管） |
| 光強控制 | 0.0001% - 100%，手動或者自動 |
軟件
| 中文和英文 | 符合21CFR Part 11 |
檢測參數(shù)
●顆粒體系的光強、體積、面積和數(shù)量分布
●分子量
●分布系數(shù) PD.I
●擴散系數(shù) D
●流體力學直徑 DH
●顆粒間相互作用力因子 kD
●溶液粘度
檢測技術(shù)
●動態(tài)光散射
●靜態(tài)光散射
相關技術(shù)
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